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EN-1230A分立器件動態參數測試系統
系統概述：
EN-1230A型分立器件動態參數測試系統是針對于半導體器件進行非破壞性瞬態測試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動態參數測試。系 統的測試原理符合相應的國家標準、軍標、系統為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展潛能。選件豐富，通過選件的靈活搭配組合實現相應的測試功能。PC 為系統主控計算機，基于Labview的軟件操作系統，測試結果可輸出為EXCEL及文本格式，每個功能單元均為獨立封閉的個體功能區，無相互干擾，穩定性好， 測試能力和信號源可實現升級擴展，低電感跨接式電路結構，電壓1500V（預留3000V的擴展選件）,電流300A（預留500A的擴展選件）,時間測試精度:1.0ns。
EN-1230A分立器件動態參數測試系統參數條件：
基本參數 | 功率源 |
| 阻性/感性開關特性單元 | 脈寬：50µs~2000µs、0.1µs步徑 時間分辨率：1ns 柵極驅動：±30V，分辨率0.1V 電阻：定制 漏極電壓：5V~1500V，分辨率1V 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 電感：0.01mH~160mH，分辨率10µH，程控式連續可調 測試參數：開啟延遲時間（td(on))、關斷延遲時間（td(off))、上升時間（tr)、下降時間（tf) |
柵極電荷單元 | 柵極驅動電流：0~200mA，分辨率1.0mA 柵極電壓：±30V，分辨率±0.1V 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 漏級電壓：5V~1500V，分辨率1V 柵極等效電阻范圍：0.1~50Ω，可調 測試參數：柵電荷（Qg)、柵源電荷（Qgs)、柵漏電荷（Qgd)、平臺電壓（Vgp) |
| 反向恢復特性單元 | 正向電流（IF）：≤300A，分辨率0.1A 反向恢復時間（Trr）：10ns~2.0µs，分辨率1ns 反向恢復電流（Irm）：≤300A 反向恢復電荷（Qrr）：1nC~100µC，分辨率1nC 反向電壓（Vr）：5V~1500V，step1V 電感：0.01mH~160mH，分辨率10µH,程控式連續可調 |
短路特性 | 最大電流：1000A 柵極驅動：±30V，分辨率 0.1V 脈沖時間：5us~100us 漏極電壓：5V~1500V，Step1V 測試參數：短路電流Isc、短路耐量Esc、短路時間Tsc |
雪崩測試單元 | 雪崩耐量：100J 雪崩擊穿電壓：2500V 雪崩電流：1.0~400A；分辨率 1.0A 雪崩感性負載范圍：0.01mH～160mH；分辨率10μH； |
結電容/電阻測試單元 | 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 電壓：5V~1500V，分辨率1V 測試掃頻范圍：0.1MHz～5MHz 輸入電容Cies、輸出電容Coe、反向轉移電容Cres |
反偏安全工作區單元 | 2倍額定電流下，測試關斷時電壓電流 |
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